Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 粗糙度測(cè)試儀
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產(chǎn)品型號(hào)：Leeb452
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Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 粗糙度測(cè)試儀構(gòu)成適應(yīng)當(dāng)今儀器發(fā)展趨勢(shì)的超小型的體系結(jié)構(gòu),可以完成粗糙度參數(shù)的采集、處理和顯示工作。
適用于加工業(yè)、制造業(yè)、檢測(cè)、商檢等部門，尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)，以及檢測(cè)、計(jì)量、商檢等部門的外出檢定。
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服務(wù)：售前咨詢電話：400-880-5151
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Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 粗糙度測(cè)試儀是專用于測(cè)量被加工零件表面粗糙度的新型智能化儀器。集當(dāng)今微處理器技術(shù)和傳感技術(shù)于一體,以先進(jìn)的微處理器和優(yōu)選的高度集成化的電路設(shè)計(jì)，構(gòu)成適應(yīng)當(dāng)今儀器發(fā)展趨勢(shì)的超小型的體系結(jié)構(gòu),可以完成粗糙度參數(shù)的采集、處理和顯示工作。
適用于加工業(yè)、制造業(yè)、檢測(cè)、商檢等部門，尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)，以及檢測(cè)、計(jì)量、商檢等部門的外出檢定。
本儀器給出的參數(shù)符合GB/T 3505-2000《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范、表面結(jié)構(gòu)、輪廓法、表面結(jié)構(gòu)的述語(yǔ)、定義及參數(shù)》、符合GB/T 6062-2002《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范 （GPS）表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 接觸（觸針）式儀器的標(biāo)稱特性》。適用于加工業(yè)、制造業(yè)、檢測(cè)、商檢等部門，尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)，以及檢測(cè)、計(jì)量、商檢等部門的外出檢定。不僅可以測(cè)量外圓、平面、錐面，還可測(cè)長(zhǎng)寬大于80×30mm的溝槽。
技術(shù)參數(shù)：
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leeb451
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leeb452
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測(cè)量參數(shù)
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Ra、Rz、Rq、Rt
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Ra、Rz
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測(cè)量范圍
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Ra:0.05-10.0μm； Rz:0.1-50μm
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取樣長(zhǎng)度
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0.25mm、0.8mm、2.5mm；
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評(píng)定長(zhǎng)度
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1.25mm、4mm、5mm
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掃描長(zhǎng)度
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6mm
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示值誤差
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≤±15％
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示值變動(dòng)性
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＜12％
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傳感器類型
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壓電晶體
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電源
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3.7V鋰離子電池
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工作溫度
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0oC- 40oC
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重量
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200g
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外型尺寸
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106×70×24mm
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標(biāo)準(zhǔn)配置
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主機(jī)、電源適配器、多刻線樣板（粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊）
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